Электронный каталог

Статья

Chen, J.
ASET and TID Characterization of a Radiation Hardened Bandgap Voltage Reference in a 28-nm Bulk CMOS Technology / J.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1141-1147. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3152496. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$