Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Zhou, X. - Investigation on Total-Ionizing-Dose Radiation Response for 700 V Double-RESURF SOI LDMOS
Zhou, X. - Investigation on Total-Ionizing-Dose Radiation Response for 700 V Double-RESURF SOI LDMOS
Статья
Автор: Zhou, X.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Investigation on Total-Ionizing-Dose Radiation Response for 700 V Double-RESURF SOI LDMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Zhou, X.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Investigation on Total-Ionizing-Dose Radiation Response for 700 V Double-RESURF SOI LDMOS
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Zhou, X.
Investigation on Total-Ionizing-Dose Radiation Response for 700 V Double-RESURF SOI LDMOS / X.Zhou, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1134-1140. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3165795. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Zhou, X.
Investigation on Total-Ionizing-Dose Radiation Response for 700 V Double-RESURF SOI LDMOS / X.Zhou, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1134-1140. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3165795. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1