Электронный каталог

Статья

Yu, Q.
Application of Total Ionizing Dose Radiation Test Standards to SiC MOSFETs / Q.Yu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1127-1133. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3135123. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$