Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Jo, A. - Brass Material Analysis with Deep-Learning-Based CdTe Semiconductor X-Ray Fluorescence System
Jo, A. - Brass Material Analysis with Deep-Learning-Based CdTe Semiconductor X-Ray Fluorescence System
Статья
Автор: Jo, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Brass Material Analysis with Deep-Learning-Based CdTe Semiconductor X-Ray Fluorescence System
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Jo, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Brass Material Analysis with Deep-Learning-Based CdTe Semiconductor X-Ray Fluorescence System
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Jo, A.
Brass Material Analysis with Deep-Learning-Based CdTe Semiconductor X-Ray Fluorescence System / A.Jo, W.Lee // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1085-1091. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3165318. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Jo, A.
Brass Material Analysis with Deep-Learning-Based CdTe Semiconductor X-Ray Fluorescence System / A.Jo, W.Lee // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1085-1091. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3165318. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Привязано к:
Доступно
1 из 1