Электронный каталог

Статья

Li, P.
Synergistic Effects of Ionizing Dose and Displacement Damage on SiGe Heterojunction Bipolar Transistors / P.Li, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.5. – P.1051-1056. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3155639. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$