Электронный каталог

Статья

Wu, Z.
Schottky Barrier Characteristic Analysis on 4H-SiC Schottky Barrier Diodes with Heavy Ion-Induced Degradation / Z.Wu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.4, Pt.2. – P.932-937. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3160181. – Bibliogr.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$