Электронный каталог

Статья

Vibbert, S.T.
In Situ Measurement of TID-Induced Leakage Using On-Chip Frequency Modulation / S.T.Vibbert, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.367-373. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3135415. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$