Электронный каталог

Статья

Rony, M.W.
Negative-Bias-Stress and Total-Ionizing-Dose Effects in Deeply Scaled Ge-GAA Nanowire pFETs / M.W.Rony, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.299-306. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3144204. – Bibliogr.:98.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$