Электронный каталог

Статья

Sui, W.
Effects of Ion-Induced Displacement Damage on GaN/AlN MEMS Resonators / W.Sui, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.216-224. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3143550. – Bibliogr.:33.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$