Электронный каталог

Статья

Chen, J.
The Secondary Electron Collection Effect of Biased Printed Circuit Board Traces in Box IEMPs / J.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.2. – P.143-151. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3139143. – Bibliogr.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$