Электронный каталог

Статья

Rezaei, M.
Impact of Dynamic Voltage Scaling on SEU Sensitivity of COTS Bulk SRAMs and A-LPSRAMs Against Proton Radiation / M.Rezaei, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.2. – P.126-133. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3140473. – Bibliogr.:37.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$