Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science
Доступно
1 из 1
1 из 1
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.193-544.
Бюллетени = 21/23
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.193-544.
Бюллетени = 21/23
Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|---|
ЦБ.ЧЗ | Журналы зарубеж. | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
Связанные описания:
Статья
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), July 19 - July 23, 2021
б.г.
ISBN отсутствует
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), July 19 - July 23, 2021
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Aviles, P. M.
Radiation Testing of a Multiprocessor Macrosynchronized Lockstep Architecture With FreeRTOS
б.г.
ISBN отсутствует
Aviles, P. M.
Radiation Testing of a Multiprocessor Macrosynchronized Lockstep Architecture With FreeRTOS
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Morana, A.
Temperature Dependence of Low-Dose Radiation-Induced Attenuation of Germanium-Doped Optical Fiber...
б.г.
ISBN отсутствует
Morana, A.
Temperature Dependence of Low-Dose Radiation-Induced Attenuation of Germanium-Doped Optical Fiber...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pan, V. A.
Application of an SOI Microdosimeter for Monitoring of Neutrons in Various Mixed Radiation Field ...
б.г.
ISBN отсутствует
Pan, V. A.
Application of an SOI Microdosimeter for Monitoring of Neutrons in Various Mixed Radiation Field ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cazzaniga, C.
Measurements of Low-Energy Protons Using a Silicon Detector for Application to SEE Testing
б.г.
ISBN отсутствует
Cazzaniga, C.
Measurements of Low-Energy Protons Using a Silicon Detector for Application to SEE Testing
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kumari, P.
Analytical Bit-Error Model of NAND Flash Memories for Dosimetry Application
б.г.
ISBN отсутствует
Kumari, P.
Analytical Bit-Error Model of NAND Flash Memories for Dosimetry Application
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Garcia-Astudillo, L. A.
Analyzing Reduced Precision Triple Modular Redundancy Under Proton Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Garcia-Astudillo, L. A.
Analyzing Reduced Precision Triple Modular Redundancy Under Proton Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Huang, Y.
Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure
б.г.
ISBN отсутствует
Huang, Y.
Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Vibbert, S. T.
In Situ Measurement of TID-Induced Leakage Using On-Chip Frequency Modulation
б.г.
ISBN отсутствует
Vibbert, S. T.
In Situ Measurement of TID-Induced Leakage Using On-Chip Frequency Modulation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, X.
Comparison of Total Ionizing Dose Effects in SOI FinFETs Between Room and High Temperature
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, X.
Comparison of Total Ionizing Dose Effects in SOI FinFETs Between Room and High Temperature
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lawrence, S. P.
Effects of Total Ionizing Dose on SRAM Physical Unclonable Functions
б.г.
ISBN отсутствует
Lawrence, S. P.
Effects of Total Ionizing Dose on SRAM Physical Unclonable Functions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, T.
Investigation on Transient Ionizing Radiation Effects in a 4-Mb SRAM with Dual Supply Voltages
б.г.
ISBN отсутствует
Li, T.
Investigation on Transient Ionizing Radiation Effects in a 4-Mb SRAM with Dual Supply Voltages
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Su, Z.
Reliability Improvement on SRAM Physical Unclonable Function (PUF) Using an 8T Cell in 28 nm FDSOI
б.г.
ISBN отсутствует
Su, Z.
Reliability Improvement on SRAM Physical Unclonable Function (PUF) Using an 8T Cell in 28 nm FDSOI
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Feeley, A.
Effect of Frequency on Total Ionizing Dose Response of Ring Oscillator Circuits at the 7-nm Bulk ...
б.г.
ISBN отсутствует
Feeley, A.
Effect of Frequency on Total Ionizing Dose Response of Ring Oscillator Circuits at the 7-nm Bulk ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Surendranathan, U.
Total Ionizing Dose Effects on Read Noise of MLC 3-D NAND Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Surendranathan, U.
Total Ionizing Dose Effects on Read Noise of MLC 3-D NAND Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cao, J.
Total-Ionizing-Dose Effects on Polycrystalline-Si Channel Vertical-Charge-Trapping NAND Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Cao, J.
Total-Ionizing-Dose Effects on Polycrystalline-Si Channel Vertical-Charge-Trapping NAND Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ma, T.
Influence of Fin and Finger Number on TID Degradation of 16-nm Bulk FinFETs Irradiated to Ultrahi...
б.г.
ISBN отсутствует
Ma, T.
Influence of Fin and Finger Number on TID Degradation of 16-nm Bulk FinFETs Irradiated to Ultrahi...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Rony, M. W.
Negative-Bias-Stress and Total-Ionizing-Dose Effects in Deeply Scaled Ge-GAA Nanowire pFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Rony, M. W.
Negative-Bias-Stress and Total-Ionizing-Dose Effects in Deeply Scaled Ge-GAA Nanowire pFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Teng, J. W.
Response of Integrated Silicon Microwave Pin Diodes to X-Ray and Fast-Neutron Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Teng, J. W.
Response of Integrated Silicon Microwave Pin Diodes to X-Ray and Fast-Neutron Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lucsanyi, D.
G4SEE: A Geant4-Based Single Event Effect Simulation Toolkit and Its Validation Through Monoenerg...
б.г.
ISBN отсутствует
Lucsanyi, D.
G4SEE: A Geant4-Based Single Event Effect Simulation Toolkit and Its Validation Through Monoenerg...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ludeke, S.
Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies: Numerical Method for RPP Parameter Extraction
б.г.
ISBN отсутствует
Ludeke, S.
Proton Direct Ionization in Sub-Micron Technologies: Numerical Method for RPP Parameter Extraction
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tang, Y.
Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic D...
б.г.
ISBN отсутствует
Tang, Y.
Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic D...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sui, W.
Effects of Ion-Induced Displacement Damage on GaN/AlN MEMS Resonators
б.г.
ISBN отсутствует
Sui, W.
Effects of Ion-Induced Displacement Damage on GaN/AlN MEMS Resonators
б.г.
ISBN отсутствует