Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Привезенцев, В.В. - Совместное XPS- и AFM-исследование пленок оксида кремния с примесью цинка для ReRAM устройств
Привезенцев, В.В. - Совместное XPS- и AFM-исследование пленок оксида кремния с примесью цинка для ReRAM устройств
Статья
Автор: Привезенцев, В.В.
Физика твердого тела: Совместное XPS- и AFM-исследование пленок оксида кремния с примесью цинка для ReRAM устройств
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Привезенцев, В.В.
Физика твердого тела: Совместное XPS- и AFM-исследование пленок оксида кремния с примесью цинка для ReRAM устройств
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Привезенцев, В.В.
Совместное XPS- и AFM-исследование пленок оксида кремния с примесью цинка для ReRAM устройств / В.В.Привезенцев, [и др.] // Физика твердого тела. – 2022. – Т.64, №7. – С.863-870. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/52574. – Библиогр.:18.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Привезенцев, В.В.
Совместное XPS- и AFM-исследование пленок оксида кремния с примесью цинка для ReRAM устройств / В.В.Привезенцев, [и др.] // Физика твердого тела. – 2022. – Т.64, №7. – С.863-870. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/52574. – Библиогр.:18.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Привязано к:
Доступно
1 из 1