Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Фоломешкин, М.С. - Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In&sub(0.53)Ga&sub(0.47)As, выращенных в низк...
Фоломешкин, М.С. - Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In&sub(0.53)Ga&sub(0.47)As, выращенных в низк...
Статья
Автор: Фоломешкин, М.С.
Кристаллография: Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In&sub(0.53)Ga&sub(0.47)As, выращенных в низк...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Фоломешкин, М.С.
Кристаллография: Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In&sub(0.53)Ga&sub(0.47)As, выращенных в низк...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Фоломешкин, М.С.
Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In&sub(0.53)Ga&sub(0.47)As, выращенных в низкотемпературном режиме на подложках GaAs (100) и (111)А с метаморфным буфером / М.С.Фоломешкин, [и др.] // Кристаллография. – 2022. – Т.67, №3. – с.341-347. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774522030075. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Фоломешкин, М.С.
Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In&sub(0.53)Ga&sub(0.47)As, выращенных в низкотемпературном режиме на подложках GaAs (100) и (111)А с метаморфным буфером / М.С.Фоломешкин, [и др.] // Кристаллография. – 2022. – Т.67, №3. – с.341-347. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774522030075. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей