Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кастро, Р.А. - Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO&sub(2), VO&sub(2):Mg, VO&sub(2):Ge
Кастро, Р.А. - Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO&sub(2), VO&sub(2):Mg, VO&sub(2):Ge
Статья
Автор: Кастро, Р.А.
Физика твердого тела: Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO&sub(2), VO&sub(2):Mg, VO&sub(2):Ge
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Кастро, Р.А.
Физика твердого тела: Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO&sub(2), VO&sub(2):Mg, VO&sub(2):Ge
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кастро, Р.А.
Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO&sub(2), VO&sub(2):Mg, VO&sub(2):Ge / Р.А.Кастро, [и др.] // Физика твердого тела. – 2021. – Т.63, №12. – с.2210-2216. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/51686. – Библиогр.:30.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Кастро, Р.А.
Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO&sub(2), VO&sub(2):Mg, VO&sub(2):Ge / Р.А.Кастро, [и др.] // Физика твердого тела. – 2021. – Т.63, №12. – с.2210-2216. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/51686. – Библиогр.:30.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Привязано к:
Доступно
1 из 1