Электронный каталог

Статья

Zhu, T.
Combined Effects of Proton Irradiation and Forward Gate-Bias Stress on the Interface Traps in AlGaN/GaN Heterostructure / T.Zhu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.11. – p.2616-2622. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3112767. – Bibliogr.:43.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$