Электронный каталог

Статья

Ryder, L.D.
Simulation of Pulsed-Laser-Induced Testing in Microelectronic Devices / L.D.Ryder, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.10. – p.2496-2507. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3111864. – Bibliogr.:56.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1э - Использование лазеров в ядерной физике