Электронный каталог

Статья

Luo, Y.
The Influence of Ion Track Characteristics on Single-Event Upsets and Multiple-Cell Upsets in Nanometer SRAM / Y.Luo, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.2. – p.1111-1119. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3067451. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$