Электронный каталог

Статья

Esposito, M.G.
Investigating Heavy-Ion Effects on 14-nm Process FinFETs: Displacement Damage Versus Total Ionizing Dose / M.G.Esposito, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.724-732. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3072886. – Bibliogr.:36.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$