Электронный каталог

Статья

Dewitte, H.
Ultra-High Total Ionizing Dose Effects on MOSFETs for Analog Applications / H.Dewitte, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.697-706. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3065842. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$