Электронный каталог -Brewer, R. M. - Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors- Absopac

Статья
Автор: Brewer, R. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Brewer, R.M.
Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors / R.M.Brewer, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.677-686. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3059594. – Bibliogr.:51.

Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Brewer, R. M. - Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors

Brewer, R. M. - Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Brewer, R. M. - Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors

Brewer, R. M. - Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors

Привязано к: