Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science
Доступно
1 из 1
1 из 1
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – P.485-1060.
Бюллетени = 14/22
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – P.485-1060.
Бюллетени = 14/22
Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|---|
ЦБ.ЧЗ | Журналы зарубеж. | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
Связанные описания:
Статья
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), November 29 - December 30, 2020
б.г.
ISBN отсутствует
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), November 29 - December 30, 2020
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Campola, M. J.
Single-Event Transient Case Study for System-Level Radiation Effects Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Campola, M. J.
Single-Event Transient Case Study for System-Level Radiation Effects Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wang, J.
Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Wang, J.
Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Morana, A.
Operating Temperature Range of Phosphorous-Doped Optical Fiber Dosimeters Exploiting Infrared Rad...
б.г.
ISBN отсутствует
Morana, A.
Operating Temperature Range of Phosphorous-Doped Optical Fiber Dosimeters Exploiting Infrared Rad...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Peracchi, S.
Radiation Shielding Evaluation of Spacecraft Walls Against Heavy Ions Using Microdosimetry
б.г.
ISBN отсутствует
Peracchi, S.
Radiation Shielding Evaluation of Spacecraft Walls Against Heavy Ions Using Microdosimetry
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cecchetto, M.
0.1–10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Cecchetto, M.
0.1–10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Libano, F.
How Reduced Data Precision and Degree of Parallelism Impact the Reliability of Convolutional Neur...
б.г.
ISBN отсутствует
Libano, F.
How Reduced Data Precision and Degree of Parallelism Impact the Reliability of Convolutional Neur...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gnawali, K. P.
Developing Benchmarks for Radiation Testing of Microcontroller Arithmetic Units Using ATPG
б.г.
ISBN отсутствует
Gnawali, K. P.
Developing Benchmarks for Radiation Testing of Microcontroller Arithmetic Units Using ATPG
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wilcox, E. P.
Observation of Low-Energy Proton Direct Ionization in a 72-Layer 3-D NAND Flash Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Wilcox, E. P.
Observation of Low-Energy Proton Direct Ionization in a 72-Layer 3-D NAND Flash Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Aubry, M.
Combined Temperature and Radiation Effects on the Gain of Er- and Er–Yb-Doped Fiber Amplifiers
б.г.
ISBN отсутствует
Aubry, M.
Combined Temperature and Radiation Effects on the Gain of Er- and Er–Yb-Doped Fiber Amplifiers
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Malherbe, V.
Displacement Damage Characterization of CMOS Single-Photon Avalanche Diodes: Alpha-Particle and F...
б.г.
ISBN отсутствует
Malherbe, V.
Displacement Damage Characterization of CMOS Single-Photon Avalanche Diodes: Alpha-Particle and F...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Xiao, T. P.
Ionizing Radiation Effects in SONOS-Based Neuromorphic Inference Accelerators
б.г.
ISBN отсутствует
Xiao, T. P.
Ionizing Radiation Effects in SONOS-Based Neuromorphic Inference Accelerators
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Han, X.
Total Ionizing Dose Effects on Multistate HfO&sub(x)-Based RRAM Synaptic Array
б.г.
ISBN отсутствует
Han, X.
Total Ionizing Dose Effects on Multistate HfO&sub(x)-Based RRAM Synaptic Array
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zink, B.
Influence of Total Ionizing Dose on Magnetic Tunnel Junctions with Perpendicular Anisotropy
б.г.
ISBN отсутствует
Zink, B.
Influence of Total Ionizing Dose on Magnetic Tunnel Junctions with Perpendicular Anisotropy
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Surendranathan, U.
Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Surendranathan, U.
Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Soderstrom, D.
Electron-Induced Upsets and Stuck Bits in SDRAMs in the Jovian Environment
б.г.
ISBN отсутствует
Soderstrom, D.
Electron-Induced Upsets and Stuck Bits in SDRAMs in the Jovian Environment
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Toguchi, S.
Charge Trapping and Transconductance Degradation in Irradiated 3-D Sequentially Integrated FDSOI ...
б.г.
ISBN отсутствует
Toguchi, S.
Charge Trapping and Transconductance Degradation in Irradiated 3-D Sequentially Integrated FDSOI ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Dewitte, H.
Ultra-High Total Ionizing Dose Effects on MOSFETs for Analog Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Dewitte, H.
Ultra-High Total Ionizing Dose Effects on MOSFETs for Analog Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gorchichko, M.
Total-Ionizing-Dose Response of Highly Scaled Gate-All-Around Si Nanowire CMOS Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Gorchichko, M.
Total-Ionizing-Dose Response of Highly Scaled Gate-All-Around Si Nanowire CMOS Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Brewer, R. M.
Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Brewer, R. M.
Total Ionizing Dose Responses of 22-nm FDSOI and 14-nm Bulk FinFET Charge-Trap Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Privat, A.
Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Privat, A.
Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Alamdar, M.
Irradiation Effects on Perpendicular Anisotropy Spin–Orbit Torque Magnetic Tunnel Junctions
б.г.
ISBN отсутствует
Alamdar, M.
Irradiation Effects on Perpendicular Anisotropy Spin–Orbit Torque Magnetic Tunnel Junctions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bagatin, M.
Depth Dependence of Threshold Voltage Shift in 3-D Flash Memories Exposed to X-Rays
б.г.
ISBN отсутствует
Bagatin, M.
Depth Dependence of Threshold Voltage Shift in 3-D Flash Memories Exposed to X-Rays
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует