Электронный каталог

Статья

Ferraro, R.
Analysis of Bipolar Integrated Circuit Degradation Mechanisms Against Combined TID–DD Effects / R.Ferraro, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.8, Pt.1. – p.1585-1593. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3082646. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$