Электронный каталог

Статья

Ma, T.
TID Degradation Mechanisms in 16-nm Bulk FinFETs Irradiated to Ultrahigh Doses / T.Ma, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.8, Pt.1. – p.1571-1578. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3076977. – Bibliogr.:33.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков