Электронный каталог

Статья

Zatko, B.
Study of Schottky Barrier Detectors Based on a High Quality 4H-SiC Epitaxial Layer with Different Thickness / B.Zatko, L.Hrubcin, S.V.Rozov, V.G.Sandukovskij, [et al.] // Applied Surface Science [Electronic resource]. – 2021. – Vol.536. – p.147801. – URL: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.147801. – Bibliogr.:48.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2021