Электронный каталог

Статья

Kato, T.
Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles / T.Kato, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.7. – p.1436-1444. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3082559. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1к1 - Мюонные детекторы
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1н - Новые детекторы