Электронный каталог

Статья

Зайцева, Ю.С.
Электронно-микроскопические исследования поверхностных образований в эпитаксиальном слое Ge&sub(3)Sb&sub(2)Te&sub(6), выращенном на кремниевой подложке / Ю.С.Зайцева, [и др.] // Кристаллография. – 2021. – Т.66, №4. – с.650-657. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774521030317. – Библиогр.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов