Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Артемов, В.В. - Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для...
Артемов, В.В. - Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для...
Статья
Автор: Артемов, В.В.
Кристаллография: Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Артемов, В.В.
Кристаллография: Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Артемов, В.В.
Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для создания жидкокристаллических метаповерхностей / В.В.Артемов, [и др.] // Кристаллография. – 2021. – Т.66, №4. – с.636-644. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774521040039. – Библиогр.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов
Артемов, В.В.
Микроскопические исследования ориентирующих слоев, обработанных сфокусированным ионным пучком для создания жидкокристаллических метаповерхностей / В.В.Артемов, [и др.] // Кристаллография. – 2021. – Т.66, №4. – с.636-644. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774521040039. – Библиогр.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов