Электронный каталог

Статья

Рогило, Д.И.
In Situ отражательная электронная микроскопия для анализа процессов на поверхности кремния: сублимации, электромиграции, адсорбции примесных атомов / Д.И.Рогило, [и др.] // Кристаллография. – 2021. – Т.66, №4. – с.528-539. – URL: https://doi.org/10.1134/S1063774521040192. – Библиогр.:60.



Спец.(статьи,препринты) = С 37 - Оптика$