Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Вавра, И. - Анализ пленок Nb Sn методом обратного рассеяния
Вавра, И. - Анализ пленок Nb Sn методом обратного рассеяния

Нет экз.
Препринты
Автор: Вавра, И.
Анализ пленок Nb Sn методом обратного рассеяния
Серия: ОИЯИ
Издательство: ОИЯИ, 1981 г.
ISBN отсутствует
Автор: Вавра, И.
Анализ пленок Nb Sn методом обратного рассеяния
Серия: ОИЯИ
Издательство: ОИЯИ, 1981 г.
ISBN отсутствует
Препринты
Вавра, И.
Анализ пленок Nb Sn методом обратного рассеяния / И.Вавра, А.В.Скрыпник. – Дубна : ОИЯИ, 1981. – 7 с. – (ОИЯИ ; 14-81-841). – URL: http://inis.jinr.ru/sl/NTBLIB/JINR-14-81-841.pdf. – Библиогр.: 4.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)
Вавра, И.
Анализ пленок Nb Sn методом обратного рассеяния / И.Вавра, А.В.Скрыпник. – Дубна : ОИЯИ, 1981. – 7 с. – (ОИЯИ ; 14-81-841). – URL: http://inis.jinr.ru/sl/NTBLIB/JINR-14-81-841.pdf. – Библиогр.: 4.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)