Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Tonigan, A. M. - Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
Tonigan, A. M. - Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
Статья
Автор: Tonigan, A. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Tonigan, A. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Tonigan, A.M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology / A.M.Tonigan, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.3. – p.305-311. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3056898. – Bibliogr.:29.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Tonigan, A.M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology / A.M.Tonigan, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.3. – p.305-311. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3056898. – Bibliogr.:29.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1