Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Kruchonak, U. - Radiation Hardness of GaAs: Cr and Si Sensors Irradiated by 21 MeV Electron Beam
Kruchonak, U. - Radiation Hardness of GaAs: Cr and Si Sensors Irradiated by 21 MeV Electron Beam
Статья
Автор: Kruchonak, U.
Journal of Instrumentation [Electronic resource]: Radiation Hardness of GaAs: Cr and Si Sensors Irradiated by 21 MeV Electron Beam
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Kruchonak, U.
Journal of Instrumentation [Electronic resource]: Radiation Hardness of GaAs: Cr and Si Sensors Irradiated by 21 MeV Electron Beam
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Kruchonak, U.
Radiation Hardness of GaAs: Cr and Si Sensors Irradiated by 21 MeV Electron Beam / U.Kruchonak, S.Abou El-Azm, G.Chelkov, M.Demichev, M.Gostkin, A.Guskov, A.Leyva, P.Smolyanskiy, N.Zamyatin, A.Zhemchugov, [a.o.] // Journal of Instrumentation [Electronic resource]. – 2020. – Vol.15, No.6. – p.C06003. – URL: https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/06/C06003.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2020
Kruchonak, U.
Radiation Hardness of GaAs: Cr and Si Sensors Irradiated by 21 MeV Electron Beam / U.Kruchonak, S.Abou El-Azm, G.Chelkov, M.Demichev, M.Gostkin, A.Guskov, A.Leyva, P.Smolyanskiy, N.Zamyatin, A.Zhemchugov, [a.o.] // Journal of Instrumentation [Electronic resource]. – 2020. – Vol.15, No.6. – p.C06003. – URL: https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/06/C06003.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2020
Привязано к:
Нет экз.