Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: De Bibikoff, A. - Method for System-Level Testing of COTS Electronic Board Under High-Energy Heavy Ions
De Bibikoff, A. - Method for System-Level Testing of COTS Electronic Board Under High-Energy Heavy Ions
Статья
Автор: De Bibikoff, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Method for System-Level Testing of COTS Electronic Board Under High-Energy Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: De Bibikoff, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Method for System-Level Testing of COTS Electronic Board Under High-Energy Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
De Bibikoff, A.
Method for System-Level Testing of COTS Electronic Board Under High-Energy Heavy Ions / A.De Bibikoff, P.Lamberbourg // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.10. – p.2179-2187. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3013952. – Bibliogr.:21.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
De Bibikoff, A.
Method for System-Level Testing of COTS Electronic Board Under High-Energy Heavy Ions / A.De Bibikoff, P.Lamberbourg // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.10. – p.2179-2187. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3013952. – Bibliogr.:21.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1