Электронный каталог

Статья

Li, L.
A Study on Ionization Damage Effects of Anode-Short MOS-Controlled Thyristor / L.Li, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.9. – p.2062-2072. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3012766. – Bibliogr.:44.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$