Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Kumari, P. - Layer-Dependent Bit Error Variation in 3-D NAND Flash Under Ionizing Radiation
Kumari, P. - Layer-Dependent Bit Error Variation in 3-D NAND Flash Under Ionizing Radiation
Статья
Автор: Kumari, P.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Layer-Dependent Bit Error Variation in 3-D NAND Flash Under Ionizing Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Kumari, P.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Layer-Dependent Bit Error Variation in 3-D NAND Flash Under Ionizing Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Kumari, P.
Layer-Dependent Bit Error Variation in 3-D NAND Flash Under Ionizing Radiation / P.Kumari, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.9. – p.2021-2027. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3014261. – Bibliogr.:32.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Kumari, P.
Layer-Dependent Bit Error Variation in 3-D NAND Flash Under Ionizing Radiation / P.Kumari, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.9. – p.2021-2027. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3014261. – Bibliogr.:32.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1