Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Cai, Y. - Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
Cai, Y. - Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
Статья
Автор: Cai, Y.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Cai, Y.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL / Y.Cai, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.8. – p.1861-1868. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3000275. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL / Y.Cai, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.8. – p.1861-1868. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3000275. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1