Электронный каталог

Статья

Dewitte, H.
Annealing Effects on Radiation-Hardened CMOS Image Sensors Exposed to Ultrahigh Total Ionizing Doses / H.Dewitte, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.7, Pt.1. – p.1284-1292. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3001618. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков