Электронный каталог

Статья

Rizzolo, S.
High Displacement Damage Dose Effects in Radiation Hardened CMOS Image Sensors / S.Rizzolo, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.7, Pt.1. – p.1256-1262. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2989662. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков