Электронный каталог

Статья

Fleetwood, D.M.
Total-Ionizing-Dose Effects, Border Traps, and 1/f Noise in Emerging MOS Technologies / D.M.Fleetwood // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.7, Pt.1. – p.1216-1240. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2971861. – Bibliogr.:250.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков