Электронный каталог

Статья

Hendrickson, B.
Wavelet Analysis of RTS Noise in CMOS Image Sensors Irradiated with High-Energy Photons / B.Hendrickson, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.7, Pt.2. – p.1732-1737. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995309. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$