Электронный каталог

Статья

Van Vuuren, A.J.
Latent Ion Tracks in Amorphous and Radiation Amorphized Silicon Nitride / A.J.Van Vuuren, V.A.Skuratov, A.Mutali, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B [Electronic resource]. – 2020. – Vol.473. – p.16-23. – URL: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.04.009. – Bibliogr.:24.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1т - Вопросы измерений в трековых камерах
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2020