Электронный каталог

Статья

Austin, R.A.
Inclusion of Radiation Environment Variability for Reliability Estimates for SiC Power MOSFETs / R.A.Austin, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.353-357. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2957979. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 в - Защита от излучений. Защитные приспособления и материалы. Дозиметрическая характеристика излучателей