Электронный каталог

Статья

Kobayashi, D.
Data-Retention-Voltage-Based Analysis of Systematic Variations in SRAM SEU Hardness: A Possible Solution to Synergistic Effects of TID / D.Kobayashi, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.328-335. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2956760. – Bibliogr.:58.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 в - Защита от излучений. Защитные приспособления и материалы. Дозиметрическая характеристика излучателей