Электронный каталог

Статья

Le Roch, A.
Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuations in CMOS Image Sensors / A.Le Roch, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.268-277. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2950086. – Bibliogr.:36.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$