Электронный каталог

Статья

James, B.
SOI Thin Microdosimeters for High LET Single-Event Upset Studies in Fe, O, Xe, and Cocktail Ion Beam Fields / B.James, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.146-153. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2939355. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 б - Дозиметрическая и радиометрическая аппаратура