Электронный каталог

Статья

Johnson, III, R.A.
Unifying Concepts for Ion-Induced Leakage Current Degradation in Silicon Carbide Schottky Power Diodes / R.A.Johnson, III, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.135-139. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2947866. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$