Электронный каталог

Статья

Pena-Fernandez, M.
The Use of Microprocessor Trace Infrastructures for Radiation-Induced Fault Diagnosis / M.Pena-Fernandez, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.126-134. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2956204. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$