Электронный каталог

Статья

Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam / D.Nergui, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.91-98. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2959973. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$