Электронный каталог

Статья

Hales, J.M.
New Approach for Pulsed-Laser Testing That Mimics Heavy-Ion Charge Deposition Profiles / J.M.Hales, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.81-90. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2950431. – Bibliogr.:30.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$