Электронный каталог

Статья

Auden, E.C.
Thermal Neutron-Induced Single-Event Upsets in Microcontrollers Containing Boron-10 / E.C.Auden, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.29-37. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2951996. – Bibliogr.:33.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$